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4.20 射频场感应传导骚扰抗扰度试验

2024-12-6 16:56| 发布者: Epona| 查看: 17| 评论: 0

摘要: 4.20.1 目的 检验探测器对射频场感应的传导骚扰的适应性。 4.20.2 方法 4.20.2.1 将试样按GB/T 17626.3中第7章规定进行试验布置,按4.1.2规定使试样处于正常监视状态。 4.20.2.2 按GB /T 17626.3中第8章规定的试验方法对试样施加表9所示条件下的干扰试验,期间观察并记录试样状态。 表9 射频
4.20.1 目的 
    检验探测器对射频场感应的传导骚扰的适应性。 
4.20.2 方法 
4.20.2.1 将试样按GB/T 17626.3中第7章规定进行试验布置,按4.1.2规定使试样处于正常监视状态。 
4.20.2.2 按GB /T 17626.3中第8章规定的试验方法对试样施加表9所示条件下的干扰试验,期间观察并记录试样状态。                    
 表9 射频场感应传导骚扰抗扰度试验条件 
射频场感应传导骚扰抗扰度试验条件
4.20.2.3 上述试验完成后,按4.1.5规定,分别以3℃/min和20℃/min的升温速率升温至试样动作。记录试样在各升温速率下的响应时间。 
4.20.3 要求  
    a) 干扰环境期间,试样不应发出火灾报警或故障信号; 
    b) 可复位探测器试样对3℃/min升温速率的响应时间不应小于7min 13s,且与环境试验前响应时间相比变化不应超过2min 40s;对20℃/min升温速率的响应时间A1类探测器不应小于30s,除A1类外其他类探测器不应小于1min 0s,且与环境试验前响应时间相比变化不应超过30s; 
    c)不可复位探测器试样的响应时间应符合表4规定。 
4.20.4 试验设备
    试验设备应满足GB/T 17626.6的相关规定。 

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