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6.3 不通电贮存试验

2024-12-5 09:04| 发布者: MArtian| 查看: 11| 评论: 0

摘要: 6.3.1 目的 检查探测器对贮存环境的适应能力。 6.3.2 要求 探测器应满足5.1.6条要求。 6.3.3 方法 6.3.3.1 将全部经标定、调零后功能正常的探测器置于低温试验箱内,以不大于1℃/min的降温速率使试验箱内温度降至一25℃±2℃,并保持24h。 6.3.3.2 将探测器从低温试验箱中取出,放于室内正常环境条件下恢复至少24h。 6.3.3.3 将探测器置于高
6.3.1 目的
    检查探测器对贮存环境的适应能力。
6.3.2 要求
    探测器应满足5.1.6条要求。
6.3.3 方法
6.3.3.1 将全部经标定、调零后功能正常的探测器置于低温试验箱内,以不大于1℃/min的降温速率使试验箱内温度降至一25℃±2℃,并保持24h。
6.3.3.2 将探测器从低温试验箱中取出,放于室内正常环境条件下恢复至少24h。
6.3.3.3 将探测器置于高温试验箱内,以不大于1℃/min的升温速率,使试验箱内温度升至55℃±2℃,并保持24h。
6.3.3.4 将探测器从高温试验箱中取出,放于室内正常环境条件下恢复至少24h。
6.3.3.5 试验结束后,在正常环境条件下,按 6.4.3条方法测量探测器的报警动作值。
6.3.4 试验设备
    满足国家标准GB 16838—1997第4章规定。

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