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6.5 不通电贮存试验

2024-12-5 08:36| 发布者: LooTan| 查看: 15| 评论: 0

摘要: 6.5.1 目的检查探测器对贮存环境的适应能力。6.5.2 要求探测器应满足5.1.8条要求。6.5.3 方法6.5.3.1 将全部经标定、调零后功能正常的探测器置于低温试验箱内，以不大于1°C/min的降温速率使试验箱内温度降至-25℃±20℃，并保持24 h。6.5.3.2 将探测器从低温试验箱中取出，放于室内正常环境条件下恢复至少24h。6.5.3.3

6.5.1 目的

检查探测器对贮存环境的适应能力。

6.5.2 要求

探测器应满足5.1.8条要求。

6.5.3 方法

6.5.3.1 将全部经标定、调零后功能正常的探测器置于低温试验箱内，以不大于1°C/min的降温速率使试验箱内温度降至-25℃±20℃，并保持24 h。

6.5.3.2 将探测器从低温试验箱中取出，放于室内正常环境条件下恢复至少24h。

6.5.3.3 将探测器置于高温试验箱内，以不大于1℃/min的升温速率，使试验箱内温度升至55℃±2℃，并保持24h。

6.5.3.4 将探测器从高温试验箱中取出，放于室内正常环境条件下恢复至少24h。

6.5.3.5 试验结束后，在正常环境条件下，按6.6.3条方法测量探测器的报警动作值。

6.5.4 试验设备

满足国家标准GB 16838-1997第4章规定。